A、导体或半导体在外界里的作用下,发生机械变形,导致电压放生变化,通过变化量来测量被测对象

B、导体或半导体在外界里的作用下,发生机械变形,导致电阻放生变化,通过电阻值变化量来测量被测对象

C、导体或半导体在外界里的作用下,发生机械变形,导致电阻放生变化,通过电流值变化量来测量被测对象

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